Aides et optimisations pour cartes existantes et nouveaux designs "Design for testability" (DfT)

• Identifier et eliminer defaults de design concernant la testabilite ou pour reduire les temps de test

• Aide pour placer les points de test

• Integration de nouveaux technologies de test (JTAG(boundary-scan, test de cluster & tests fonctionels)

• Faisabilite et realisation de programmation de composants sur la carte "on-board"

• Possibilite de adaptions particulieres (Fine Pitch, Clou rigid, bead probes,...)

• Choix de compiosants

• Verification des designs avant de geler les donnees